掌上型数位IC测试仪器Lp-1,数字集成电路测试仪技术参数指标和详细产品资料

产品简介:

1． 为测试数字 IC而设计
2． 可测试元件：TTL54/74，CMOS 40/45，DRAM 41/44
3． 轻小可携带、操作容易，可使用电池、非常省电
4． 设有empty-load测试及自动电源开关装置
5． 平均测试时间：0.8秒

规格：
1． 显示：16×1字LCD
2． 测试元件接脚数：14到24PIN

选择配件： *SOP adaptor

支援元件：

·74 Serial ·40 Serial ·45 Serial ·41 Serial ·44 Serial