IST8800分立半导体器件综合测试仪 本仪器是美国IST公司最新研制的产品，采用Z80芯片，微机控制，液晶显示其测试条件及测量结果，可用于对晶体三极管，二极管，齐纳二极管，J型场效应管，可控硅管。，三端双向可控硅管和三端稳压器进行直流参数的测试，并可自动进行合格/不合格判断，对器件进行分选.本仪器并配有RS 232C串联接口和IEE 488接口，可配接电脑数据记录仪及打印机，打印出测试条件及结果。并可以对各类器件的予置测试条件进行存储。关机后，仍可保存在机内，以备下一次的使用。
性能指标： | 三极管 Icbo Iceo Ices Iebo Icev |
| 电流 | 电压 | 分辨率 | 误差 |
| 0 200.0 nA | 0 600V | 0.1nA | ±2% |
| 0 200μA | 0 600V | 1 nA | ±1.5% |
| 0 200.0μA | 0 600v | 1.1μA | ±1% |
| 0 20.00mA | 0 500V | 10μA | ±1% |
| 三级管 BVcbo BVebo BVcer BVces BVcev |
| 电压 | 电流 | 分辨率 | 误差 |
| 0 600V | 0 30mA | 3V | ±1% |
| 0 30V | 0 200mA | 0.1V | ±1% |
| 三极管 Vve(sat)Vbe(sat) |
| 电压 | 电流 | 分辨率 | 误差 |
| 0 5V | 0 5A | 2mV | ±2% |
| 0 2V | 0 1A | 1mV | ±2% |
| 三极管 hFE |
| | 量程 | 分辨率 | 误差 |
| hFE | 0 5000 | 1 | ±2% |
| Vce | 0 20V | | |
| Ic | 0 5A | | |
| Ib | 0 1A | | |
| 二极管Ir |
| 电流 | 电压 | 分辨率 | 误差 |
| 0 200.0nA | 0 600V | 0.1nA | ±2% |
| 0 200.0μA | 0 600V | 1 nA | ±1.5% |
| 0 2.00μA | 0 600V | 0.1μA | ±1% |
| 0 20.00mA | 0 500V | 10μA | ±1% |
| 二极管BVr |
| C | 电流 | 分辨率 | 误差 |
| 0 30V | 0 200mA | 0.1V | ±2% |
| 0 600V | 0 20mA | 3V | ±2% |
| 二极管Vf |
| 电压 | 电流 | 分辨率 | 误差 |
| 0 5V | 0 5A | 2mV | ±2% |
