ABI记忆芯片测试仪PT3100,线性集成电路测试仪技术参数指标和详细产品资料

特点：
1、 可测试32脚以内SRAM、DRAM、30线以内SIMM、SIP，测试容量：16K--- 116M。
2、 可自动测试芯片的好坏，也可先设定型号，再进行测试。
3、 提供SINGLE TEST、LOOP TEST、PASS TEST、FAIL TEST四种测试方式。
4、 细致的设置菜单，可设定测试电压及测试速度及是否自动关机等。
5、 可准确显示故障位置 。
6、 带有4*20字 8*5点的LCD显示屏。
7、 可使用电源适配器，也可使用电池。